芯片测试转接装置

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试转接装置，包括：芯片测试转接板，用于连接主机端和测试主板；所述芯片测试转接板设有第一连接座和若干个第二连接座，所述第一连接座用于连接所述主机端，若干个所述第二连接座用于连接所述测试主板；所述芯片测试转接板包括扩展部，所述第一连接座和若干个所述第二连接座通过所述扩展部电性连接，所述扩展部的侧边具有弧形状轮廓，若干个所述第二连接座位于所述扩展部的侧边上，且沿所述弧形状轮廓均匀排列。本申请提高芯片测试效率。