HIL测试中IO模型生成系统及方法

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HIL测试中IO模型生成系统及方法
申请号:CN202411958801
申请日期:2024-12-27
公开号:CN119937507A
公开日期:2025-05-06
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种HIL测试中IO模型生成系统及方法,涉及HIL测试领域,包括:IO信号列表生成工具,用于生成IO信号列表;信号校验模块,用于在信号组中配置E2E校验信息;第一接口设置模块,用于设置故障注入接口;IO模型生成工具,用于生成IO模型;IO模型包括E2E校验模型,其中包括第一故障注入接口和第二故障注入接口;通过第一故障注入接口完成计数器信号处理模型的故障注入;通过第二故障注入接口完成校验计算模型的故障注入;通过回采计数器信号的当前值,分别计算下一帧报文中对应的计数器信号计算值和校验信号计算值,完成信号校验。本发明实现了不同系统下的IO模型自动生成,且实现了E2E校验及其故障注入。
技术关键词
计数器 模型生成系统 总线模块 自定义接口 校验模型 模型生成方法 生成工具 列表 信号处理模块 自定义模型 校验信息 报文 模块结构 校验模块 字段 脚本
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