一种基于数据分析的液晶模组性能测试系统

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一种基于数据分析的液晶模组性能测试系统
申请号:CN202411960985
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119376130A
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于数据分析的液晶模组性能测试系统,具体涉及数据分析技术领域,包括液晶模组数据划分模块、液晶模组数据采集模块、液晶模组预处理模块、液晶模组分析模块、综合分析模块、综合评估模块、预警模块、数据库模块以及液晶模组可视化模块。通过对目标液晶模组数据区域划分为各划分单元并进行对应数据采集;通过基板材质系数值、液晶层性能系数值、封装层性能系数值以及环境性能系数值导入数据分析模型得到综合模组性能异常指数值,通过综合模组性能异常指数值与预设综合模组性能异常阈值进行比较并进行反馈,有助于提高液晶模组性能的精确性和可靠性。
技术关键词
液晶模组 性能测试系统 数学模型 数据分析模型 数值 液晶分子预倾角 环境数据采集单元 基板 分析模块 层厚度 预警模块 平整度偏差 数据采集模块 数据分析单元 可视化方式 可视化模块
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