测试设备、用于多个防伪芯片的并行测试方法、可读存储介质

本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种测试设备、用于多个防伪芯片的并行测试方法、可读存储介质。测试设备包括：芯片载具、切换电路和主控模块；芯片载具包括多个测试位，测试位用于放置待测防伪芯片；切换电路包括多个切换支路和译码器；译码器用于控制切换支路的导通和断开；切换支路与测试位一一对应，切换支路的导通和断开用于切换对应测试位中的待测防伪芯片与主控模块的SWI输出端或者外部电源连接；主控模块用于根据放置有待测防伪芯片的测试位数量和待测防伪芯片的每个测试项目的测试时长，向译码器输出控制指令控制切换支路的导通和关断，以对放置于多个测试位中的待测防伪芯片进行并行测试。本申请可以提高批量防伪芯片的测试效率。