一种采样方法、装置、电子设备及存储介质

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一种采样方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411966036
申请日期:2024-12-30
公开号:CN120105088A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种采样方法、装置、电子设备及存储介质,通过在K中心贪婪采样算法过程中使用大顶堆结构,将各候选样本按照与中心点之间的距离加入至距离大顶堆中,由于大顶堆结构中根节点处的候选样本为相似距离最大的样本,在选择距离最大的样本加入中心点时,仅耗费建堆时间O(n),无需遍历各相似距离,而可以直接获取大顶堆的根节点加入中心点,将选择加入至中心点中的节点的计算复杂度从O(nk)降低至O(n),进而将采样过程的计算复杂度从O(n*k2*d)降低至O(k*n*d),降低了计算复杂度,提高了采样效率。且通过引入权重信息,使得采样方法更具有目标性,提高高质量样本被采样的概率。
技术关键词
样本 采样方法 节点 数据 数值 复杂度 电子设备 文本 计算机 采样装置 处理器 指令 模块 可读存储介质 标识 程序 图像 存储器 算法
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