一种适用于水下结构缺陷尺寸测量的系统及方法

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一种适用于水下结构缺陷尺寸测量的系统及方法
申请号:CN202411966465
申请日期:2024-12-30
公开号:CN119779149A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种适用于水下结构缺陷尺寸测量的系统及方法,利用无人水下载体以及安装在所述无人水下载体上的拍摄装置、测距装置、照明装置实现对水下结构破损、裂缝、错台、淘空等常见缺陷平面和深度尺寸的简易多功能测量。针对水下结构缺陷平面尺寸的测量方法包括:确定基准面和空间直角坐标系;照准目标;确定测量点空间坐标,结合拍摄装置采集的影像,测量水下结构缺陷平面尺寸。针对水下结构缺陷深度尺寸的测量方法包括:确定基准面和空间直角坐标系;照准目标;确定测量点空间坐标;计算目标面方程;计算水下结构缺陷深度尺寸。该方法解决了水下结构缺陷尺寸测量手段缺失的问题。
技术关键词
水下结构 拍摄装置 测量点 测距装置 缺陷尺寸 空间直角坐标系 深度尺寸 破损缺陷 基准面 照明装置 激光测距仪 载体 测量方法 可见光相机 水下机器人 视野 方程 影像
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