一种相控阵辅助透射超表面的波束扫描方法及装置

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一种相控阵辅助透射超表面的波束扫描方法及装置
申请号:CN202411969980
申请日期:2024-12-30
公开号:CN120109531A
公开日期:2025-06-06
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种相控阵辅助透射超表面的波束扫描方法及装置,具体地,建构高透射率的透射式智能超表面,根据高透射调相单元的电磁特性拟合复透射系数;根据相控阵结合透射式智能超表面系统目标工作频段和波束扫描范围,建构单元天线模型并确定阵列组合方式;部署相控阵结合透射式智能超表面系统的位置,得到馈源端到透射式智能超表面端位置信息集合;根据阵因子合成原理得到相控阵结合透射式智能超表面系统模型,计算出系统波束增益;引入相控阵激励参数编码,以系统波束增益最大化为目标导向,利用粒子群优化算法得到使得相控阵结合透射式智能超表面系统波束最优化的相控阵激励参数配置,以实现系统效益优化与提升。
技术关键词
超表面 相控阵单元 粒子群优化算法 波束扫描方法 笛卡尔坐标系 相控阵天线单元 参数 相控阵阵列 馈源 编码 电磁仿真 拟合算法 频段 排布方式
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