摘要
本发明公开一种超表面安全线多角度复用设计与仿真方法及系统,属于微纳光学及光学防伪技术领域,包括:S1、对获取的多类型防伪图像进行预处理;S2、将预处理后的防伪图像和补偿后的振幅分布,分别与全息相位图分布相结合,得到超表面设计相位分布;S3、基于不同的目标防伪图像强度分布,进行二次编码和干涉叠加,得到多角度复用相位分布;S4、计算超表面到观察平面各个点的衍射距离,通过振幅叠加、逆傅里叶变换与归一化,得到超表面后成像相位分布;S5、对多角度复用超表面单元进行拼接整合,生成完整的安全线图像。本发明通过微纳结构设计、多物理场耦合仿真及自动化参数调整,实现了高安全性、多维度防伪特征的安全线设计与仿真。
技术关键词
超表面
安全线
多角度
仿真方法
图像
光学防伪技术
干涉条纹
光强
微纳光学
防伪特征
成像
补偿算法
仿真系统
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