一种可调节式多规格电子芯片通电性能检测设备

本发明涉及电子芯片性能检测技术领域，提供了一种可调节式多规格电子芯片通电性能检测设备，包括：底座，所述底座上安装有传送带和固定架，所述固定架顶部安装有视觉识别摄像头，所述固定架上设置有对齐机构，所述底座上在传送带靠近固定架的一端设置有转移机构和检测台，且所述转移机构位于传送带与检测台之间，所述检测台中设置有调节机构，且所述调节机构上安装有探针；本发明通过向与测试点对应的安装块内的电磁铁一通电，使方槽二内的磁块向电磁铁一移动，从而带动磁块上的探针向方槽二外的方向移动，与电子芯片进行接触通电，通过使多个滑块一移动的距离都相同，从而实现等距调节，从而使得安装块内的探针与电子芯片中的测试点对应。