封装结构及半导体器件

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封装结构及半导体器件
申请号:CN202421246466
申请日期:2024-06-03
公开号:CN222734977U
公开日期:2025-04-08
类型:实用新型专利
摘要
本申请提供了一种封装结构及半导体器件,涉及半导体技术领域,封装结构包括:塑封体;多个引脚,位于塑封体的相对的两侧;多个外露基岛,设置在塑封体的底部,外露基岛用于贴装芯片;第一塑封槽,设置在相邻的两个外露基岛之间的塑封体底部。本申请在塑封体的底部设置外露基岛,并在外露基岛间开设塑封槽,保证足够爬电距离的同时,提高封装结构的散热效果,从而提高器件的使用寿命和性能。
技术关键词
封装结构 外露 半导体器件 爬电距离 控制芯片 功率 低压 激光 高压
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