一种测试设备

本实用新型涉及一种测试设备，包括机座、安装组件、扫码装置和测试装置，所述机座上沿x方向布设有扫码工位和测试工位，所述机座上设有导向结构，所述导向结构从所述扫码工位延伸至所述测试工位，所述安装组件包括安装座，所述安装座移动设置于所述导向结构上，所述安装座上设有安装部，以供芯片放置，所述扫码装置和所述测试装置均设于所述机座的一侧，所述扫码工位处于所述扫码装置的扫码区域内，所述测试工位处于所述测试装置的测试区域内。本实用新型提供的测试设备解决了现有的芯片测试设备扫码产品与芯片的ID不匹配的问题。