一种带限位结构的射频探针双针卡

本实用新型公开了一种带限位结构的射频探针双针卡，属于芯片测试技术领域，包括弹性针尖（1）、微波吸收体（2）、固定支架（3）和射频连接器组件（4），其中，所述射频连接器组件（4）包括连接器部分和线缆部分，所述弹性针尖（1）设置于所述线缆部分的末端，在所述固定支架（3）上设置有两个具有间距的限位凹槽（5），所述线缆部分设置于所述限位凹槽（5）内；本实用新型能够解决现有技术特殊测试情况常规探针无法满足因芯片压焊点较宽而产生的测试问题，提升了芯片设计的灵活性，打破因探针自身测试灵活度不够而产生的设计束缚。