一种静电损伤测试用芯片夹具

本实用新型公开了一种静电损伤测试用芯片夹具，涉及芯片测试技术领域，包括：静电测试电路电性连接，所述夹具与静电测试电路电性连接，所述夹具还包括：电路板，所述电路板上设置有导通座，所述导通座与静电测试电路电性连接，所述导通座用于与静电测试电路电性连接；安装座；支撑座；测试部；两个限位部。本实用新型让芯片放置于支撑座的支撑槽内与测试部的顶端电性连通，同时测试部通过导通座与静电测试电路相连通，以实现完成对芯片进行静电测试采集集成电路芯片的抗静电能力。另外通过设置限位部，保证芯片在测试部上的电性连通效果。即有效的实现模拟静电放电环境测试集成电路芯片的抗静电能力的目的。