一种芯片稳定性长效测试平台

本实用新型属于测试领域，尤其是一种芯片稳定性长效测试平台，针对现有的芯片测试时间过长，测试结束后需人工更换芯片和将测试后的芯片转移至良品区和次品区，大大降低了测试效率的问题，现提出如下方案，其包括传动机构，所述传动机构的一侧右边设有用于运送芯片的传送机构，所述传动机构的一侧中部设有用于对芯片进行检测的检测机构，所述传动机构的一侧左边设有用于筛分芯片的筛分机构，所述传动机构内设有用于夹取芯片的夹取机构，本实用新型中，可以实现自动夹取待测芯片，自动筛分良品和次品芯片，并对筛分后的芯片进行收集的效果，提高测试效率。