开关参数测试电路

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开关参数测试电路
申请号:CN202421408137
申请日期:2024-06-19
公开号:CN223038122U
公开日期:2025-06-27
类型:实用新型专利
摘要
本申请提供一种开关参数测试电路,涉及电子电路技术领域。在上述开关参数测试电路包括信号输入单元、参数测试电路单元及采集单元。当信号输入单元向参数测试电路单元输入高电平信号时,参数测试电路可以对待测试的碳化硅晶体管栅极进行充电,使得碳化硅晶体管处于导通状态。而当信号输入单元向参数测试电路单元输入低电平信号时,参数测试电路可以对碳化硅晶体管存储的栅极电荷进行反向抽取,快速移除栅极电荷,同时还可以保持碳化硅晶体管的负栅源电压,从而使得碳化硅晶体管处于关断状态。此外,通过采集单元可以采集碳化硅晶体管在上述过程中的电性变化,以此得到碳化硅晶体管的开关参数。
技术关键词
参数测试电路 碳化硅晶体管 信号处理芯片 采集单元 储能单元 电源输入端 开关 信号发生器 接地端 驱动电源 电子电路技术 栅极 关断 二极管 电压 电阻
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