一种用于芯片测试的吹气装置

本实用新型提供一种用于芯片测试的吹气装置，包括进气盒和出气盒，出气盒设置于环形探针塔的中心且与PCB板密封连接，PCB板上设置有贯通的联通孔，联通孔联通出气盒，出气盒的顶部设置有出气孔；进气盒设置于方形探针塔组合件上，进气盒的顶面设置有进气孔，方形探针塔组合件设置于环形探针塔组合件下方并与环形探针塔组合件连接时，进气盒位于出气盒的下方与PCB板抵接，且进气孔与联通孔联通；进气盒连接有外部进气设备，探针接口板的针卡与环形探针塔对接时，进气盒中的气体经由进气孔、联通孔、出气盒从出气孔流出并从环形探针塔与针卡之间的间隙散逸。本实用新型提供的用于芯片测试的吹气装置，带走潮湿和/或热量，提高测试性能。