一种半导体芯片焊接抽真空机构

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一种半导体芯片焊接抽真空机构
申请号:CN202421502276
申请日期:2024-06-28
公开号:CN222754575U
公开日期:2025-04-15
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种半导体芯片焊接抽真空机构。包括上腔体、下腔体、腔体座、升降机构、抽真空机构、破真空机构、电加热块;所述腔体座上设置有升降机构,所述腔体座底部设置有上腔体,上腔体与升降机构连接,所述上腔体下方设置有下腔体,上腔体与下腔体结构相配合,所述下腔体内设置有电加热块;所述下腔体分别与抽真空机构、破真空机构连接,所述上腔体与下腔体闭合时形成密封腔体,所述下腔体的密封面上设置有密封圈,密封腔体分别与抽真空机构、破真空机构连通。本实用新型通过采用上、下腔体配合密封圈,大大加强了密封腔体的密封性,提高了抽真空效果,减少了芯片焊接面的空洞率。通过对下腔体、密封圈进行冷却,延长了密封圈使用寿命。
技术关键词
抽真空机构 半导体芯片 升降机构 密封腔体 齿轮齿条传动机构 冷却风扇 气体过滤器 电加热 光电检测器 密封圈使用寿命 真空管路 伺服电机 正压 腔体结构 数显压力表 水冷却 导柱
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