一种Nand Flash储存芯片测试治具

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一种Nand Flash储存芯片测试治具
申请号:CN202421540501
申请日期:2024-07-02
公开号:CN222995102U
公开日期:2025-06-17
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型提出了一种Nand Flash储存芯片测试治具,属于技术领域。所述Nand Flash储存芯片测试治具,包括设备主体、连接槽以及按压板,其中,设备主体内部开设有检测槽,检测槽内部固定连接有检测触点,设备主体内部开设有活动槽,设备主体外部固定连接有连接基座,活动槽内部活动连接有齿槽带,连接槽固定连接在齿槽带外部,连接基座外部活动连接有外层齿套,外层齿套内部活动连接有中心转轴,中心转轴外部固定连接有延伸板,按压板活动连接在延伸板外部,安置板外部活动连接有NandFlash芯片,NandFlash芯片外部固定连接有针脚。本实用新型具有可以将针脚与检测触点相互定位,可以将NandFlash芯片垂直装取等优点。
技术关键词
设备主体 检测槽 芯片 齿套 齿轴 触点 齿杆 基座
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