一种抽拉式减震微阵列芯片检测试剂盒

本实用新型公开了一种抽拉式减震微阵列芯片检测试剂盒，包括试剂盒本体，试剂盒本体包括盒体和盖合在盒体上方的盒盖，盒体内部从下至上依次设置有冷却盒、若干层相互平行的微阵列芯片放置层，盒体的前侧面开口，并且若干层微阵列芯片放置层和冷却盒均可从前侧面开口抽出；相邻微阵列芯片放置层之间以及微阵列芯片放置层与冷却盒之间均通过海绵相连；冷却盒的上部敞口，并冷却盒内置有冰袋，冰袋所发出的冷气自底部向上通过海绵内部空心区域传导，实现对微阵列芯片的冷藏保温效果。本实用新型解决了试剂盒运输过程中震动易碎、插入不方便、温度不易控制的技术问题。