一种芯片翻面装置及芯片检测设备

本申请公开了一种芯片翻面装置及芯片检测设备，一种芯片翻面装置包括基座、第一翻转组件、第二翻转组件和移动驱动组件，所述第一翻转驱动器能够驱动所述第一吸附件转动，使所述第一吸附面具有第一检测状态和第一翻转状态；当所述第二吸附面处于所述第二翻转状态和所述第一吸附面处于所述第一翻转状态时，所述第二吸附面和所述第一吸附面相对设置；所述移动驱动组件与所述第一翻转组件和/或所述第二翻转组件连接，用于驱动所述第一翻转组件和所述第二翻转组件沿所述第一方向相互靠近或相互远离。实现了对于芯片的正反面测试，操作便利，节约人力成本，且对于芯片采用吸附的方式，对芯片的表面不会产生磨损，对于芯片起到良好的保护作用。