一种全自动芯片测试座

本实用新型公开了一种全自动芯片测试座，包括：上盖，所述上盖固定连接两组对称的竖杆；底座，匹配所述上盖，所述底座设置有对称的槽口，两组对称的所述竖杆匹配对称的所述槽口；对称的手扣，分别设置有弧槽，两组对称的所述竖杆分别固定连接第三钢销，对称的所述手扣分别转动连接对应的所述第三钢销；对称的手扣摆臂，分别设置在对应的所述弧槽内，对称的所述手扣分别固定连接第二钢销，对称的所述手扣摆臂分别转动连接对应的所述第二钢销，所述底座固定连接对称的第一钢销。本实用新型涉及测试底座技术领域，具体为一种全自动芯片测试座。本实用新型要解决的技术问题是提供一种全自动芯片测试座，有利于实现芯片测试。