一种多用半导体芯片测试治具

本实用新型公开了一种多用半导体芯片测试治具，涉及芯片测试技术领域。本实用新型包括机架，所述机架的内侧设置有支撑台，所述机架的表面设置有用于控制支撑台移动的移动调节组件，所述移动调节组件的顶面放置有多个不同规格并用于对芯片进行测试的测试座，所述测试座与测试设备电性连接，所述支撑台的上方设置有用于对芯片进行限位的芯片定位组件，所述机架的表面还设置有用于控制测试座与芯片定位组件进行对接的提升组件，所述移动调节组件包括电机，且电机固定安装在机架的内壁，在使用中实现了便于对芯片进行快速测试的效果，能够根据芯片不同来选择对应的测试座4进行测试，从而扩大了其适用范围，使用起来更加方便灵活。