一种基于内存模组的高低温测试装置

本实用新型公开了一种基于内存模组的高低温测试装置，涉及芯片测试设备技术领域，包括测试箱体，所述测试箱体包括高低温腔室和常温腔室；所述高低温腔室位于常温腔室的顶部；所述高低温腔室的一端设置有进风口，另一端设置有出风口，且所述高低温腔室的内部设置有测试区和内存模组；所述测试区靠近于出风口设置；所述内存模组呈阵列分布于测试区中；所述常温腔室内设置有PC电源、散热器、PC延长板以及PC主板，所述PC电源位于PCB主板的一侧；所述散热器的底部与PC主板的顶部相固定，且散热器的顶部通过PC延长板与内存模组的底部连接。本实用新型的有益效果：既保证了测试的精准度，又优化了用户体验。