一种芯片高低温测试机

本实用新型公开了一种芯片高低温测试机，该高低温测试机旨在解决现有技术下由于芯片放置较为麻烦，使得在对待检测芯片进行高低温测试时一次只能检测较少的芯片，影响检测效率，如放置较多芯片时，其放置架结构较为复杂，不方便将放置架取出，影响工人的工作效率的技术问题。该高低温测试机包括高低温测试机本体和智能控制器，高低温测试机本体的工件放置入口处安装有机门，高低温测试机本体的内壁处开设有滑槽。高低温测试机增加检测的效果，且装置能够保证设备内部热空气的流通，使得放置的多组工件皆处于相同的温度下，从而保证工件测试的准确性，且本方案的工件放置组件安装便捷，拆卸简单，工人能够轻松的将工件放置在侧板上。