一种芯片测试装置

本实用新型设计了一种芯片测试装置，其包括测试板、固定座和按压组件，测试板上的第一弹性件连接有承托板，承托板设有限位槽和若干通孔，限位槽的尺寸与芯片的尺寸相匹配，确保了芯片在测试过程中的精准定位，若干通孔和芯片的测试点一一对应，固定座上开设有螺纹孔，按压组件包括螺纹杆和压块件，螺纹杆螺纹连接螺纹孔，螺纹杆靠近承托板的一端连接压块件，测试时，驱动螺纹杆正向旋转，螺纹杆可带动压块件下移，压块件会按压承托板和芯片，芯片上的所有测试点均会通过通孔并电连接测试板，相较于现有技术，检测效率有了明显的提高。