一种芯片测试设备的测试机构

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试设备的测试机构，包括底板；所述底板的顶部设有测试板；所述测试板设有多个测试座；所述测试座设有安装座；所述安装座的顶部升降活动设有活动座；所述安装座的中部设有测试槽；所述活动座设有测试开口；所述安装座在测试槽的两侧翻转设置有抵压块；所述活动座的顶部升降活动设有压板；所述压板贯穿设有多个穿孔；所述穿孔与测试开口对应设置。本实用新型通过设置多个测试座，每个测试座均能够对芯片进行测试，并且通过控制压板升降，从而能够控制所有的抵压块同时进行翻转，便于将芯片放置在测试槽以及将芯片压紧在测试槽中，从而能够同时对多个芯片进行的测试，大大地提高了工作效率。