一种微波芯片测试工装

本发明公开了一种微波芯片测试工装，涉及微波芯片测试技术领域，旨在解决微波芯片测试工装中对于夹持器械功能不足的技术问题，包括测试机台；所述测试机台上设置有输送组件；所述测试机台上相对所述输送组件输出端位置设置有基础转运组件；所述基础转运组件下方设置有若干用于对微波芯片通电操作的辅助载台；所述辅助载台边侧设置有用于对微波芯片测试操作稳定限位的夹持组件。本发明基于夹持组件的调节设置，致使该夹持组件具有两种不同的夹持方式形成柔性夹持状态及弹性保持状态，通过两种不同夹持方式实现模拟通电测试中砷化镓和氮化镓微波芯片热膨胀系数不同的，有效提高操作的功能性。