一种存储芯片测试装置

本实用新型公开了一种存储芯片测试装置，包括电路板底托、测试模组以及测试座，所述电路板底托上间隔排列有多个所述测试模组，所述测试模组包括多个所述测试座，所述测试座用于测试存储芯片。本实用新型的测试装置，采用模组化设计，使得装置结构更加灵活，便于维护和升级，同时降低了生产成本和提高了生产效率。