新型光电检测设备定位结构

本实用新型涉及光电检测设备领域，尤其涉及新型光电检测设备定位结构。技术问题：在利用光电检测设备对集成电路芯片进行检测的过程中，需利用定位机构将集成电路芯片摆放至设备的正中心，然而这一过程会受到集成电路芯片尺寸的影响，从而会对检测结果造成影响。技术方案：新型光电检测设备定位结构，包括有第一定位组件、第二定位组件、摆放组件、光电检测仪。本实用新型通过设置三重推动结构和尺寸适配结构，让设备在给集成电路芯片进行定位的过程中可以通过电控的调节，使定位机构可以适配于多种尺寸的集成电路芯片，从而保证的定位的精度，以提高检测的精确性。