存储芯片的测试装置

本申请公开一种存储芯片的测试装置，测试装置包括壳体、至少一个治具组件和至少一个测试设备。其中，每一治具组件包括至少两个治具模块，至少两个治具模块在壳体内呈阶梯状设置；每一治具模块上设置有若干测试接口，每一测试接口被配置为耦接存储芯片存取装置；其中，存储芯片存取装置被配置为容置至少一个待测试存储芯片；至少一个测试设备设置于壳体外部，每一测试设备被配置为与多个测试接口耦接，以对与测试接口耦接的存储芯片存取装置中的待测试存储芯片进行测试。通过上述测试装置，可以利用设置于壳体外部的测试设备对设置于壳体内部的与存储芯片存取装置耦接的待测试存储芯片进行测试。