一种用于蓝光芯片的老化测试柜

本实用新型涉及测试设备技术领域，公开了一种用于蓝光芯片的老化测试柜，包括柜体和柜门，柜体内设有测试腔，柜门连接在柜体且能开合测试腔，柜门上设有透明可视窗，测试腔中朝向透明可视窗的一端设有开口，开口上设有可折叠的防蓝光帘，防蓝光帘包括第一连接条、第二连接条和连接在第一连接条与第二连接条之间的荧光胶片，荧光胶片为黄色荧光胶片，第一连接条连接在开口的一端，第二连接条可拆卸地连接在开口的另一端，且第二连接条能与第一连接条可拆卸连接，第二连接条连接在开口的另一端时，荧光胶片完全遮挡透明可视窗；本实用新型有效避免蓝光芯片发出的蓝光透出老化测试柜，操作人员能够通过透明可视窗实时观察蓝光芯片的情况，使用方便。