一种芯片封装结构、方法、散热盖加工方法及电子设备

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一种芯片封装结构、方法、散热盖加工方法及电子设备
申请号:CN202411885133
申请日期:2024-12-19
公开号:CN119812128A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种芯片封装结构、方法、散热盖加工方法及电子设备,所述芯片封装结构包括:封装基板;多类芯片;多类凸点结构,同类芯片通过同类凸点结构连接封装基板;多类芯片采用多类凸点结构连接封装基板之后形成封装高度差,芯片的封装高度为芯片采用凸点结构连接封装基板之后,芯片的顶面与封装基板的顶面之间的高度;散热盖,所述散热盖包括高度差补偿结构,用于补偿多类芯片形成的封装高度差,以使多类芯片均与所述散热盖相接触;其中,多类芯片中存在高度基准芯片,所述高度差补偿结构的布局根据所述多类芯片中的其他芯片相对于高度基准芯片的封装高度差确定。本申请实施例提供的芯片封装结构提高了芯片封装的灵活性。
技术关键词
芯片封装结构 封装基板 散热盖 补偿结构 凸点结构 凹槽结构 芯片封装方法 基准 布局 参数 铜柱凸点 电子设备 环氧树脂 空隙 焊锡 数据
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