一种半导体芯片引脚检测装置

本实用新型公开了一种半导体芯片引脚检测装置，该引脚检测装置包括检测台，检测台的顶部设有检测组件，检测台的顶部且位于检测组件的下方设有定位组件，检测台的顶部且位于检测组件的前方设有收集箱，检测台的顶部且位于定位组件的左侧设有上料组件；检测组件用于对芯片引脚进行精准检测；定位组件用于对芯片进行限位固定；上料组件与收集箱分别用于对芯片进行自动上下料，与现有的检测装置相比较，本实用新型通过设计提高了检测装置整体的实用性；可以避免在检测时芯片发生偏移影响检测结果，同时在检测完成后可以通过检测组件将半导体芯片放入收集箱内，通过收集箱对检测完的半导体芯片进行回收。