集成电路芯片模块分选机移位测试机构装置

本实用新型提供了一种集成电路芯片模块分选机移位测试机构装置，包括测试机构，所述测试机构的旁侧设置有承料装置，所述承料装置下部安装有用于驱动承料装置滑移的推动机构，所述承料装置的上方设置有移位机构，所述承料装置包括滑移托盘，所述滑移托盘靠近测试机构的一侧上间隔设置有若干芯片放置座，所述芯片放置座上设置有用于放置芯片的芯片放置槽。本实用新型通过承料装置固定各个测试工位的起始位置，然后通过推动机构将承料装置推入测试设备中，之后通过移位机构实现各个测试工位上的芯片快速更换，方便专业化的生产，提高生产效率。