一种芯片老化机独立温控系统

本实用新型属于半导体测试的技术领域，具体涉及一种芯片老化机独立温控系统，包括老化机台和与老化机台相连接的若干组待测芯片，所述待测芯片连接有独立温控插座，所述独立温控插座插入连接有转接机构，所述转接机构信号连接有计算机，所述计算机通过转接机构及独立温控插座与待测芯片数据传输设置。本实用新型的待测芯片的测试温度能够精准地进行调节控制，解决了欠温和超温的问题，保证了芯片老化测试的稳定性及精准性，同时解决了温度限制的问题，缩短了芯片测试的时间，极大地提升了老化机台的产能利用率。