光模块测试自动上下料设备

本申请公开的属于光模块芯片测试技术领域，具体为光模块测试自动上下料设备，包括上料机构和下料机构，所述上料机构包括架体二、固接在架体二内部的支板二、连接在支板二上端的放盘机构，所述下料机构包括架体一、固接在架体二内部的支板一、连接在支板一上端的收盘机构，所述支板一和支板二上端均连接有料仓部；本申请料盘架中可以插入多张料盘，多张料盘之间不会接触，避免造成产品的损伤，同时，步骤设计逻辑更加合理，设备的动作步骤简单，且设备结构简单，有效的提高了料盘上下料的效率。