一种半导体测试工装台

本实用新型涉及半导体测试领域，尤其涉及一种半导体测试工装台。包括工作台和两个测试针组，所述工作台的上表面安装有测试仪表，所述工作台的上表面安装有治具板，所述治具板的上表面固定连接有芯片，所述工作台的上表面设有调节结构，所述调节结构包括两个固定板，两个所述固定板与工作台固定连接，所述固定板靠近芯片的一侧固定连接有两个固定杆，两个所述固定杆的圆弧面滑动连接有移动板，所述移动板远离芯片的一侧固定连接有操纵杆。本实用新型提供的一种半导体测试工装台具有支撑架配合限位板对测试针组进行夹持固定，安装高度和横向位置灵活可调，在对不同的芯片进行测试时，不需要更换整个测试工装，节约成本的优点。