一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备

本实用新型涉及转向系统技术领域，具体地说是一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备。一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备，其特征在于：ATE测试机的一侧设有测试台机架，测试台机架的顶部设有RPS芯片测试机构；测试台机架的顶部设有测试平台，测试平台上设有底座，位于底座的外围设有支撑框架，支撑框架的顶部设有支撑平台，支撑平台上设有测试子板固定架；支撑框架内设有伺服电机，伺服电机的驱动轴上通过磁铁套筒轴接磁铁，位于磁铁套筒的外侧通过电机编码器外圈转子抱紧装置连接电机编码器。同现有技术相比，解决了传统静态测试角度误差方式存在的无法覆盖RPS芯片实际动态工况，测试效率低和精度难平衡等缺陷。