兼容存储设备测试及开卡的转接装置及开卡测试系统

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兼容存储设备测试及开卡的转接装置及开卡测试系统
申请号:CN202422621790
申请日期:2024-10-28
公开号:CN223273026U
公开日期:2025-08-26
类型:实用新型专利
摘要
本申请公开一种兼容存储设备测试及开卡的转接装置及开卡测试系统,其中转接装置包括第一SATA接口、第二SATA接口、第三SATA接口、总线开关模块和控制器;所述总线开关模块分别连接所述第一SATA接口、所述第二SATA接口、所述第三SATA接口和所述控制器;所述第一SATA接口用于接入存储设备;所述第二SATA接口用于接入开卡设备;所述第三SATA接口用于接入测试设备;所述控制器用于向所述总线开关模块输出选通信号;所述总线开关模块用于在接收所述选通信号,接通所述第二SATA接口至所述第一SATA接口之间的信号通道或者接通所述第三SATA接口至所述第一SATA接口之间的信号通道。本申请能够避免依赖人工将存储设备频繁插接于开卡设备和测试设备,可以提升量产效率。
技术关键词
存储设备测试 总线开关 转接装置 开卡设备 接入测试设备 模拟开关芯片 信号 模块 控制器 烧录设备 转接板 通道 依赖人工 USB接口 电阻 端口
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