一种双相机芯片缺陷检测设备

本申请涉及芯片缺陷检测领域，更具体地涉及一种双相机芯片缺陷检测设备，中所述双相机芯片缺陷检测设备，包括：一第一检测组件和一第二检测组件，所述第一检测组件和所述第二检测组件均被设于外部输送装置，且所述第一检测组件和所述第二检测组件还间隔预定距离，同时需要说明的是，上述第一检测组件包括一第一相机，所述第二检测组件包括一第二相机，所述第一相机和所述第二相机的架设高度不同，从而满足不同的拍摄需求。本实用新型能通过有效地利用其自身的结构配置实现芯片缺陷检测全面、结构简单、布局合理、适用性高的优势。