一种芯片测试座

本实用新型提供一种芯片测试座，涉及芯片测试领域。包括：固定座，固定座顶部设有测试板；测试板开设有第一通孔，测试板顶部设有两组金手指结构；两组金手指结构相对位于第一通孔两侧；弹簧座，弹簧座固定穿设于固定座并与第一通孔相接，弹簧座顶部弹性穿设有定位座；定位座位于第一通孔内；金属探针，金属探针活动贯穿定位座和弹簧座并弹性连接于弹簧座内，且金属探针顶端在静态下凸出于定位座顶部。本申请能够大大提高芯片引脚与金手指之间的接触可靠性，保证良好的接触性能，进而提高导电性能；能够辅助芯片进行散热，并将芯片接地，提高防干扰性和安全性能。