一种自定位芯片检验测试插座

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一种自定位芯片检验测试插座
申请号:CN202422796820
申请日期:2024-11-18
公开号:CN223597716U
公开日期:2025-11-25
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种自定位芯片检验测试插座,涉及到芯片测试设备技术领域,包括定位座,所述定位座的内部设置有两个对称设置的定位块,两个所述定位块相互靠近的一侧设置有导向面。本实用新型通过设置定位座,定位座的内部设置有两个定位块,定位块的一侧设置有倾斜的导向面,导向面可以实现对芯片的左右两侧进行引导,以保证芯片的精确放置,通过在定位块的一侧底端设置凹槽,凹槽的内部设置活动块,活动块的外侧设置有延伸块,延伸块的一侧设置有倾斜结构的引导面,引导面可以实现对芯片前后两侧的引导,从而可以保证芯片可以精确放置,并无需工作人员的手动对准,以达到提升芯片检测效率的目的。
技术关键词
定位座 倾斜结构 定位块 双头螺杆 安装框 芯片测试设备 活动块 调节螺杆 凹槽 滑杆 限位块 底座 顶端 弹簧
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