一种芯片测试装置

本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括：安装箱、测试治具、压紧机构、遮盖箱，安装箱包括第一装载箱与第二装载箱；测试治具，设置于第一装载箱的内部，测试治具用于安装与测试被测芯片；压紧机构可滑动地设置于第一装载箱与第二装载箱上侧，压紧机构包括第一气缸、压板与压紧基座，第一气缸连接于压紧基座上，压板与压紧基座竖直滑动连接，第一气缸的活塞杆连接压板，第一气缸用于驱动压板压紧或远离被测芯片；遮盖箱用于遮盖压紧机构与第二装载箱。测试治具为SOCKET治具。压板远离SOCKET治具。压紧机构远离SOCKET治具，压紧机构滑动至遮盖箱内。