一种小型芯片测试分选机构

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一种小型芯片测试分选机构
申请号:CN202422852311
申请日期:2024-11-22
公开号:CN223587761U
公开日期:2025-11-25
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型涉及芯片制备技术领域,本实用新型要解决的技术问题是现有设备不能适用于小型芯片。为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种小型芯片测试分选机构。本实用新型包括芯片供料系统、芯片搬运系统、芯片测试系统、芯片收集系统以及控制系统。沿旋转平台的旋转方向,芯片搬运系统、芯片测试系统以及芯片收集系统依次设置。芯片搬运系统包括抓取组件和芯片吸嘴;芯片收集系统的拾取部件设于旋转平台的上方,拾取部件与旋转至其下方的芯片载具对应;收集盒与拾取部件一一对应设置,收集盒与拾取部件连接;控制系统与到料传感器、抓取组件、测试组件以及芯片收集系统电性连接。本实用新型实现了小型芯片全自动化、高效的分选。
技术关键词
分选机构 芯片测试系统 测试探针 搬运系统 基准组件 收集系统 测试组件 芯片吸嘴 抓取组件 旋转平台 机械手 控制系统 待测芯片 运输轨道 直线导轨 供料系统 压紧组件
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