一种大电流集成电路芯片的测试夹具

本实用新型提供了一种大电流集成电路芯片的测试夹具，包括测试组件，所述测试组件包括翻转座、显示屏、针板、两个测试线、升降座、四个导向杆、两个安装座、弹簧、四个压力传感器、限位板和调节座；所述调节座的外侧壁下部螺纹连接于所述翻转座的内侧壁上部。本实用新型通过转动调节座，调节座向下移动并推动升降座向下移动，当针板与芯片接触后，弹簧受力被压缩，针板可以保持与芯片的引脚接触，同时针板向上的反作用力推动压力传感器，通过显示屏可以对芯片受到的压力进行显示，然后根据显示的压力数值转动调节座，对芯片受到的压力进行调节，进而可以保证探针与芯片引脚的压力在额定范围内，提高了测试的稳定性，而且不会造成芯片的损坏。