一种夹具及芯片测试用夹具

本申请属于夹具技术领域，具体地说是一种夹具及芯片测试用夹具，包括夹具平台和限位主体，所述夹具平台上设有放置区，所述放置区上用于放置待装夹物；所述限位主体包括至少一个夹持件，所述夹持区为多方向组合面，适于所述夹持区同时限制所述待装夹物的多方向自由度；夹持区具有多方向组合面，使得待装夹物的多个方向受到抵接限制，减少依赖夹持件与待装夹物之间通过摩擦力来对待装夹物对应方向的限制，因此当夹持区与待装夹物抵接时，夹持区与待装夹物之间无需采用较大的挤压力，即可对待装夹物进行比较有效的位置限制，并且夹持区能同时限制待装夹物的多方向自由度。