半导体测试结构和半导体器件结构

本实用新型涉及一种半导体测试结构和半导体器件结构，涉及半导体领域。本实用新型提供的半导体测试结构用于对有源区进行测试，半导体测试结构包括：基底；栅极组，配置于基底，栅极组包括多个栅极结构，多个栅极结构排列设置；以及导电组，配置于基底，导电组包括第一导电部和第二导电部，第一导电部用于连接有源区的第一端和测试机的第一端，第二导电部用于连接有源区的第二端和测试机的第二端。栅极结构会对有源区的电阻值产生影响，导电组同时连接有源区和测试机，通过测试机对有源区进行电阻值测试时，能够根据测得的电阻值判断有源区的受影响程度，能够判断PSE健康度，进而优化芯片设计和制造过程。