一种光栅芯片偏摆角度信号测试机构

本实用新型公开了一种光栅芯片偏摆角度信号测试机构，涉及光栅芯片测试领域，解决了现有装置难以根据需求对光栅芯片进行偏摆角度信号高效测试的问题，采用了如下方案：包括安装座，所述安装座的顶部滑动套装有滑座及卡座，所述卡座的外壁上固定安装有支座，所述支座上装配有微型马达，且微型马达的输出端转动套装有支盘；所述支盘上装配有光栅尺及位移传感器；该光栅芯片偏摆角度信号测试机构，通过该结构的设置，能够利用滑座及卡座上所滑装以及调节的设置，便于对卡座的横向以及竖向上的具体位置进行微调，而微型马达的设置则能够驱动支盘及其上光栅尺和位移传感器进行旋动，从而实现对底侧光栅芯片进行偏摆角度信号测试的效果。