一种芯片引脚测试装置

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体的说是一种芯片引脚测试装置，包括第一盖板和第二盖板，所述第一盖板下端铰接有第一底板，所述第二盖板下端铰接有第二底板，所述第一盖板和第二盖板前端面一侧均嵌入设置有导电金属板，所述导电金属板下端均固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧一端固定在第一盖板和第二盖板一侧上，所述第一底板和第一盖板一侧中部位置均嵌入设置有连接板，两个所述连接板一侧分别固定连接在第二底板和第二盖板一侧，所述连接板前端面中部均匀开设有第二孔槽，所述第一盖板和第一底板相互远离一侧边角中心处嵌入设置有卡柱，通过拉动卡柱调整第一底板和第二底板之间距离，便于灵活夹持芯片测试芯片引脚。