检测平台

本实用新型属于芯片检测技术领域，公开了检测平台，用于半导体测试设备的检测，其包括机台和保护罩。机台上具有多个安装位，每个安装位均安装有待测模块，待测模块具有多个待检测的检测位；保护罩设置于机台并与机台围合形成保护空间，部分检测位位于保护空间内部，保护罩设有对应于部分检测位的若干能启闭的活动盖板。以此该检测平台在使用时，通过将待测模块安装在安装位上进行调试，能够快速根据调试过程排查出现问题的结构并对应调整相应的结构，从而高效完成待测模块的调试，而且调试时也能够确保在部分检测位之间流转的空载料盘不会脱离，从而确保调试过程中的安全性。